CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率成像,清晰呈現(xiàn)樣品表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。采用特殊設(shè)計(jì)的隔振措施,能夠減小環(huán)境中振動(dòng)對電鏡的干擾,并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能,消除場地因素對電鏡的影響。
更新時(shí)間:2025-12-03
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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CEM3000系列纖維測量掃描電鏡高分辨率成像+多種成像參數(shù)可選,微尺度特征(如60nm銀線)清晰呈現(xiàn),滿足材料分析、缺陷檢測等專業(yè)級(jí)需求。一鍵出片+自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,無需專業(yè)運(yùn)維團(tuán)隊(duì),普通員工即可快速上手,降低人力培訓(xùn)成本,高效獲取高質(zhì)量成像。
更新時(shí)間:2025-12-01
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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CEM3000B高倍掃描電鏡20萬倍高清+40秒快檢!解決高倍觀測時(shí)振動(dòng)導(dǎo)致成像模糊、抽氣等待太久拖累研發(fā)/質(zhì)檢進(jìn)度、傳統(tǒng)高倍電鏡依賴專用實(shí)驗(yàn)室,現(xiàn)場檢測根本無法落地等痛點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-11-27
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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NS系列抗蝕劑臺(tái)階高度儀(搭載LVDC線性可變差動(dòng)電容傳感器)以亞埃級(jí)分辨率檢測抗蝕劑材料,一站式解決批量檢測效率低、數(shù)據(jù)偏差大、適配性不足等行業(yè)痛點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-11-25
產(chǎn)品型號(hào):NS200
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中圖儀器國產(chǎn)3d共聚焦顯微鏡賦能B端企業(yè)降本增效,在半導(dǎo)體、3C電子、汽車零部件、微納材料等工業(yè)領(lǐng)域,測量材料表面的粗糙度、微觀形貌、幾何輪廓等參數(shù)。憑借自主研發(fā)突破、精準(zhǔn)適配工業(yè)需求、高性價(jià)比與本土化服務(wù)優(yōu)勢,助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)“精準(zhǔn)測量+成本可控+高效運(yùn)維”的三重價(jià)值。
更新時(shí)間:2025-11-25
產(chǎn)品型號(hào):VT6100
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中圖儀器0.005nm粗糙度RMS重復(fù)性白光干涉儀形貌重復(fù)性達(dá)0.1nm,臺(tái)階測量準(zhǔn)確度僅0.3%,符合ISO 25178、ISO 10610等300余種國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。基于白光干涉技術(shù)與復(fù)合型EPSI重建算法,連續(xù)10次測量Sa=0.2nm硅晶片,數(shù)據(jù)偏差<0.001nm,為工藝優(yōu)化、產(chǎn)品質(zhì)檢提供可信的量化依據(jù)。
更新時(shí)間:2025-11-25
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
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